Da warten wir lieber erstmal auf Perl.
Der ist ja schon da.



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George Orwell 1984 ist nichts gegen heute.
Der Überwachungsstaat ist schon da!

Leider lernen die Menschen nicht aus der Geschichte,
ansonsten würde sie sich nicht andauernd wiederholen.

Ich hatte vorhin schon etwas mit Edit drangehängt, dann aber zulange für
das Schreiben gebraucht. Nächster Versuch neues Glück.

Das Oszilloskop von Tek rauscht ein wenig, das liegt haubtsächlich an
dem verwendeten Speicherverfahren. Die Abgetasteten Messwerte werden in
einen analogen CCD-Speicher gespeichert, woraus sie dann mit einem
langsameren Takt der Quantisierung (ADC) unterworfen werden. Erst dann
sind sie digital mit bis zu 256 verschiedenen Zuständen.
Schnelle Flash-ADC sind ein wenig teuer, besonders wenn sie 1GS/s und
mehr schaffen.

Das Rauschen der Emissionsquelle zu messen wird nicht sehr einfach sein.
Besonders, wenn noch die ganze Schaltung darum rauscht.

Vom vorgehen müsste man erst mal den Dunkelstrom der PD (Photodiode)
mit Verstärkerschaltung ermitteln. Von der Quelle bekommen wir den
"Signalstrom" und deren "Rauschstrom".
Beim verrechnen muss man bedenken, dass die Strome geometrisch
verrechnet werden müssen.

Um den Signalanteil los zu werden kann man sich einen Trick behelfen.
Die Quelle sendet mit gleichbleibender Intensität.
Das kann beim Empfänger einfach durch einen HP (Hochpass)
herausgefiltert werden. (Rauschsignale sind Breitbandsignale.)

Ferner muss man bedenken, das das Rauschen der FD durch lichteinfall
beeinflusst wird. Die Temperatur sollte auch einigermaßen konstant bleiben. Ich würde kühlen.
Für den Verstärker bestell schon mal etwas N₂ flüssig.
(Um das dann einiger maßen rauschfrei zu bekommen, schreibe eine
Diplomarbeit in der elektrotechnischen Fakultät aus.)
Bedenke weiterhin, das die Emissionsquellen mit einer rauschfreien
Stromquelle betrieben werden. Die LD (LASER-Diode dabei pingeligst
genau auf Temperatur halten und die emittierte Leistung mit der
eingebauten Monitordiode (in der LD) überwachen.
Die emittierte Leistung ist vom Diodenstrom und der Temperatur abhängig.

Ich höre erstmal hier auf, nicht das ich noch deine Arbeit schreibe.

MfG
Holger, der gerade den Faden verloren hat.
Diesmal aber mit <strg>-C gesichert.

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[ Diese Nachricht wurde geändert von: high_speed am 30 Jan 2009 18:42 ]

Ohje Danke.
Das wird wohl doch ein aufwändigeres Vorhaben als gedacht bzw. übersteigt meine "Kompetenz"...

Sinn- und Zweck der Sache ist übrigens keine Diplomarbeit o.ä. sondern ich (Maschinenbauer) baue mit / für einen Biologen ein kleines System zur kurzzeitigen Probenbeleuchtung auf. Es ging dann eben darum ein möglichst "sauberes" Licht zu haben. Große Schwankungen kann man ja ganz gut eliminieren (wenn sie denn vorkommen würden). Nur das Rauschen KÖNNTE ein Problem sein, wenn es - sagen wir mal 10, 20, 30% Größenordnung hat oder sich zeitlich verändert). Es würde mir ja schon reichen zu wissen, ob es eher 0,1% oder 10% rauscht...

Das hier angesprochene Selbstrauschen von Oszi und Detektor dürfte doch um Größenordnungen darunter liegen, oder sehe ich das falsch?

Zusatzfrage (hoffentlich nicht zu dumm): Kann man nicht irgendwie den FFT-Analyzer einsetzen um das zumindest "etwas" zu sehen?

Hallo Snuggles,

Beim Messen von Rauschereignissen muss man sehr sorgfältig dran gehen.
Sowenig Eigenrauschen wie möglich.

Die Photonen-Emittierung in dem Halbleiterkristall ist eine typisches
Rauschereigniss. Die Atome emittieren unregelmäßig Photonen.
Bei der LD ist es nicht gerade viel besser, da werden die Photonen
gleichmäßig emittiert, aber nicht alle Atome sind in dem gleichen Energieniveau. Im Mittel wird sich das über die große Anzahl der Atome
ausgleichen. Am Ende wird man von dem Rauschen nicht mehr sehr viel sehen.
> Es würde mir ja schon reichen zu wissen, ob es eher 0,1% oder 10%
> rauscht...

0,1% => 30dB SNR
10% => 10dB SNR

Das SNR ist bezogen auf die optische Leistung.)

Das Rauschen wird um einige Größenordnungen kleiner sein, deswegen auch
diesen extremen Messaufwand. Ich werfe mal besser als 100dB SNR in den
Raum.
Man muss auch bedenken, das die Energiequelle auch so rauschfrei wie
möglich sein sollte.

MfG
Holger

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Dann hast Du eine ganz andere Zielsetzung. Statt das Rauschen messen zu wollen, geht es um Speckle-Unterdrückung.

Es gibt spezielle Speckle-reduzierte Laserstrahlquellen für Mikroskopie.

Gruß,
Ltof

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„Schreibe nichts der Böswilligkeit zu, was durch Dummheit hinreichend erklärbar ist.“
(Hanlon’s Razor)

Hallo Ltof,

du hast es.
Ich habe mal wieder an was ganz anderes gedacht. Warum?
Ich dachte die Probe sollte durch das Licht angeregt werden und
sollte sie auf irgendeine Weise darauf reagieren.
Die Rauschreduzierung, da die Reaktion sehr klein ist.

Bekommst , da du das eigendliche Problem gesehen hast.
Manchmal sieht man den Wald vor lauter Bäumen nicht.

MfG
Holger

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